原文轉載于賽默飛公眾號： 賽默飛材料與結構分析中國
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2021年7月23日，賽默飛聯合多家科研機構共同舉辦的“2021全國表面分析方法及新材料表征研討會”于長春成功召開，會議邀請了眾多國內外專家共同交流XPS、拉曼、電鏡等分析手段在表面分析領域的最新研究進展及應用。
召開期間，賽默飛于大會現場正式發(fā)布了全新一代Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 X 射線光電子能譜儀。中科院長春應化所逯樂慧副所長、中山大學陳建教授、清華大學姚文清教授、中科院大連化物所盛世善研究員、中科院化學研究所劉芬研究員、賽默飛材料與結構分析業(yè)務高級商務總監(jiān)陳廳行，共同參與了新品揭幕儀式，宣告Nexsa G2在中國的正式閃亮登場！
同時此次大會還進行了同步直播，線上的近600名觀眾同我們一起見證了Nexsa G2的中國區(qū)發(fā)布！
揭幕儀式后我們很榮幸的邀請到了賽默飛表面分析全球市場發(fā)展總監(jiān)Richard G. White為大會進行新品介紹。Richard表示：當今表面和界面分析充滿了挑戰(zhàn)，需要一款儀器能夠為后續(xù)的研發(fā)改進提供可靠的結果。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面分析系統(tǒng)是一款高性能 X 射線光電子能譜儀，在保證數據質量和樣品測試通量的同時，集成了其他分析技術。希望能夠為中國科研及工業(yè)發(fā)展做出貢獻！
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